半導體分立器件可靠性測試設備的應用

1、前言半導體分立器件可靠性測試設備是專(zhuān)門(mén)用于評估半導體分立器件在各種條件下的可靠性和穩定性的工具和系統。這些設備通過(guò)模擬器件在實(shí)際使用中可能遇到的各種環(huán)境和電應力情況，對器件進(jìn)行一系列的測試和監測，以確定其是否能夠在規定的時(shí)間內和特定的條件下正常工作。其主要分為環(huán)境應力測試類(lèi)、電應力測試類(lèi)、其他特殊測試設備。2、溫控儀表在半導體分立器件可靠性測試設備的應用天津海瑞電子科技有限公司在半導體分立器件可靠性測試設備生產(chǎn)上主要用于測IGBT模塊，IGBT模塊是一種重要的功率半導體器件，所以在測試過(guò)程中對溫度的要求較高，測試原理主要是通過(guò)電熱-水冷板板給被測元件快速加熱或冷卻，從而使元件Tc瞬間上升或下降如此反復循環(huán)（詳見(jiàn)圖1）。圖13、宇電溫控儀表幫助客戶(hù)實(shí)現的價(jià)值半導體測試設備對溫控器的要求高，且受當時(shí)芯片漲價(jià)，國外溫控器斷貨的影響，客戶(hù)前期選用的溫控器控制效果都差強人意，客戶(hù)輾轉多次找到宇電

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半導體行業(yè)碳化硅長(cháng)晶爐應用案例

物理氣相傳輸法（PVT）是制備碳化硅（SiC）晶體的主流方法之一，PVT法生長(cháng)SiC單晶，溫度高達2300℃，生長(cháng)過(guò)程需嚴格控制生長(cháng)溫度梯度，其溫度控制系統為閉環(huán)控制，由紅外測溫儀、溫控器、加熱電源以及加熱器（感應線(xiàn)圈）組成。系統框圖：宇電AI系列人工智能調節器1、AI-8x9系列2、AI-MODBUS-TCP1-24VDC成功應用于國內某半導體裝備制造頭部企業(yè)碳化硅長(cháng)晶爐，該系統溫度的精確控制，儀表兼容多類(lèi)型輸入/輸出規格，具備可調的控制周期及報警功能，通訊兼容RS485及RS232，且可匹配外部TCP模塊實(shí)現MODBUS-TCP便捷通訊。溫度控制效果：溫度控制效果：溫度波動(dòng)≤±0.5℃@2200℃，溫度超調、穩定時(shí)間等指標均與英國競品水平相當，經(jīng)終端客戶(hù)驗證，可完全平替國外競品，成功實(shí)現國產(chǎn)替代。

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行業(yè)案例 | 宇電多回路溫控器品質(zhì)卓越，滿(mǎn)足半導體制造多樣化測試需求

隨著(zhù)半導體產(chǎn)業(yè)走入芯片融合時(shí)代，工藝和應用的復雜度不斷提升，想要生產(chǎn)出好的產(chǎn)品，“測試先行”尤為重要。測試設備主要用于半導體制造過(guò)程中檢測芯片性能與缺陷，幾乎每一道工藝完成后都要進(jìn)行，其中高精度溫度控制貫穿于整個(gè)測試環(huán)節的始末。宇電合作伙伴中，江蘇某高端測試儀器和設備供應商，專(zhuān)業(yè)從事光網(wǎng)絡(luò )測試、光芯片測試、電性能測試和功率芯片測試。自2020年起，激光器芯片老化測試需求激增，對溫控器品質(zhì)和性能的要求更苛刻，一直在尋求激光器老化設備的理想溫控解決方案。通過(guò)對比驗證，宇電AI-7548D71溫控器在控制效果、通訊速度、安全性與穩定性方面完全滿(mǎn)足該設備供應商在不同測試場(chǎng)景下的多樣化需求。提升測試結果的準確性和可靠性?？蛻?hù)評價(jià)：“我們曾在設備上進(jìn)行過(guò)不同品牌溫控系統的控制測試。結果顯示，宇電AI-7548D71溫控模塊的控制效果明顯優(yōu)于其他品牌，與國際品牌控溫效果一致?！? 宇電多路溫控器全面提升

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